CDSCB10M7GF123-R0 Murata Electronics North America, CDSCB10M7GF123-R0 Datasheet - Page 7
![DISCR SMD FOR TOSHIBA TA31275](/photos/5/97/59713/cdscb_series_sml.jpg)
CDSCB10M7GF123-R0
Manufacturer Part Number
CDSCB10M7GF123-R0
Description
DISCR SMD FOR TOSHIBA TA31275
Manufacturer
Murata Electronics North America
Series
CDSCBr
Datasheets
1.CDSCB10M7GA042-R0.pdf
(1 pages)
2.CDSCB10M7GF123-R0.pdf
(16 pages)
3.CDSCB10M7GF123-R0.pdf
(73 pages)
Specifications of CDSCB10M7GF123-R0
Frequency
10.7MHz Center
Filter Type
Discriminator
Insertion Loss
3dB
Package / Case
0.177" L x 0.079" W x 0.039" H (4.50mm x 2.00mm x 1.00mm)
Mounting Type
Surface Mount
Lead Free Status / RoHS Status
Lead free by exemption / RoHS Compliant
Impedance
-
Bandwidth
-
Other names
490-4728-2
Available stocks
Company
Part Number
Manufacturer
Quantity
Price
Company:
Part Number:
CDSCB10M7GF123-R0
Manufacturer:
MURATA
Quantity:
36 000
仕様書番号
Drawing No. JGM40-2201B
※ 注意 : 製品はいずれの試験前後においても、チップ単体として測定します。
Note : Shall be measured without any additional components
8-4
8-5
8-6
高温放置
Dry Heat
(Storage)
低温放置
Cold
(Storage)
熱衝撃特性
Thermal Shock
株式会社 村 田 製 作 所
項 目
Item
Sカーブ特性 S Curve characteristics
10.7000MHz±200kHz点での電圧差
Difference of voltage between at
10.7000MHz±200kHz
for each of the above mentioned tests.
温度+85±2°Cの恒温槽中に1000時間保持し、常
温に取出して、1時間後に測定する。
Components shall be left in a chamber
(Temperature: +85±2°C) for 1000 hours, then
measured after leaving in natural condition for 1
hour.
温度-40±2°Cの恒温槽中に1000時間保持し、常
温に取出して、1時間後に測定する。
Components shall be left in a chamber
(Temperature: -40±2°C) for 1000 hours, then
measured after leaving in natural condition for 1
hour.
温 度 -55°C の 恒 温 槽 中 に 30 分 間 保 持 後 、 温 度
+85°Cの恒温槽中に直ちに移し、30分間保持す
る。これを1サイクルとし、全200サイクル行
い、常温に取り出して1時間後に測定する。
After performing 200 cycles of thermal test
(-55°C 30 minutes to +85°C 30 minutes),
components shall be left in natural condition for
1 hour.
項 目
Item
第1表 Table 1
Test Condition
試 験 条 件
Murata Manufacturing Co.,Ltd.
Specification After Test
700mV 以上 / min.
規 格
第1表を
満足します。
The measured
value shall meet
Table 1.
試験後の規格
Specification
After Test
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