CDSCB10M7GA042-R0 Murata Electronics North America, CDSCB10M7GA042-R0 Datasheet - Page 8

DISCR SMD FOR PHILIPS SA605

CDSCB10M7GA042-R0

Manufacturer Part Number
CDSCB10M7GA042-R0
Description
DISCR SMD FOR PHILIPS SA605
Manufacturer
Murata Electronics North America
Series
CDSCBr

Specifications of CDSCB10M7GA042-R0

Frequency
10.7MHz Center
Bandwidth
300kHz
Filter Type
Discriminator
Insertion Loss
3dB
Package / Case
0.177" L x 0.079" W x 0.039" H (4.50mm x 2.00mm x 1.00mm)
Mounting Type
Surface Mount
Lead Free Status / RoHS Status
Lead free by exemption / RoHS Compliant
Impedance
-
Other names
490-4721-2
仕様書番号
Drawing No. JGM40-2175B
    ※ 注意 : 製品はいずれの試験前後においても、チップ単体として測定します。
      Note : Shall be measured without any additional components
     
       ※ 注意
         Note
8-3
8-4
8-5
高温放置
Dry Heat
(Storage)
低温放置
Cold
(Storage)
熱衝撃特性
Thermal Shock
※ 中心周波数の変化
※ Center Frequency Drift
※ 復調出力電圧の変化
※ Recovered Audio Output Voltage Drift
株式会社 村 田 製 作 所
項 目
Item
for each of the above mentioned tests.
: 各変化量は試験前の初期値を基準とします。
: The limits in the above table refer to
温度+85±2°Cの恒温槽中に1000時間保持し、常
温に取出して、1時間後に測定する。
Components shall be left in a chamber
(Temperature: +85±2°C) for 1000 hours, then
measured after leaving in natural condition for 1
hour.
温度-40±2°Cの恒温槽中に1000時間保持し、常
温に取出して、1時間後に測定する。
Components shall be left in a chamber
(Temperature: -40±2°C) for 1000 hours, then
measured after leaving in natural condition for 1
hour.
温 度 -55°C の 恒 温 槽 中 に 30 分 間 保 持 後 、 温 度
+85°Cの恒温槽中に直ちに移し、30分間保持す
る。これを1サイクルとし、全200サイクル行
い、常温に取り出して1時間後に測定する。
After performing 200 cycles of thermal test
(-55°C 30 minutes to +85°C 30 minutes),
components shall be left in natural condition for
1 hour.
the initial measurements.
項 目
Item
第1表 Table 1
Test Condition
試 験 条 件
Murata Manufacturing Co.,Ltd.   
Specification After Test
±30kHz 以内 / max.
±2dB 以内 / max.
規 格
第1表を
満足します。
The measured
value shall meet
Table 1.
試験後の規格
Specification
After Test
P. 8/17

Related parts for CDSCB10M7GA042-R0