tb2933hq TOSHIBA Semiconductor CORPORATION, tb2933hq Datasheet - Page 10

• Manufacturer Part Number: tb2933hq
• Manufacturer: TOSHIBA Semiconductor CORPORATION

I
10 ピン
DB1 D6
診断イネーブル
異常事象
ラッチ
2
C コマンド
(診断サイクルイネーブル = 1)
例えば、負荷短絡、負荷オープ
ンなど
(スタンバイ OFF = 0)
診断サイクルをイネーブルに
するトリガ
図 5 のように初期設定を行った後、リードコマンドを反復することで電源投入時診断を連続して実行できま
す。
本 IC には、電源投入タイミングに応じて 2 つの診断モードが内蔵されています。
A) 通常モード (1 回診断)
初めに、電源投入時診断サイクルイネーブル (IB1 D6 = 1) にセットしてライトデータをセットします。
従って、パワーオンから出力が出るまでの間に繰り返しチェックすることが可能です。
A) 通常モード (1 回) の電源投入時診断 (データ: IB1, D7 = 0)
B) 連続モードの電源投入時診断 (データ: IB1, D7 = 1)
例えば、有効なデータが 2 つ必要な場合は、リードコマンドを 3 回送信する必要があります。
2 つ目と 3 つ目のデータが真のデータです。
ライト
リード 1
有効な測定値を得るには、リー
ドに 150 ms 以上の間隔が必要
約 100 ms
なると、“異常事象” で “ラッチ”
が反映される
“診断イネーブル” が High に
10
リード 2
診断サイクルで検出されている
ここで受信したデータは前の
リード 3
電源投入時診断サイクル
TB2933HQ
2010-02-22