LP2996LQ National Semiconductor, LP2996LQ Datasheet - Page 4

no-image

LP2996LQ

Manufacturer Part Number
LP2996LQ
Description
DDR Termination Regulator
Manufacturer
National Semiconductor
Datasheets

Available stocks

Company
Part Number
Manufacturer
Quantity
Price
Part Number:
LP2996LQ
Manufacturer:
NSC
Quantity:
297
Part Number:
LP2996LQ
Manufacturer:
NS
Quantity:
147
Part Number:
LP2996LQ
Manufacturer:
NS/国半
Quantity:
20 000
Part Number:
LP2996LQ/NOPB
Manufacturer:
National Semiconductor
Quantity:
1 785
Company:
Part Number:
LP2996LQ/NOPB
Quantity:
5 000
Part Number:
LP2996LQX
Manufacturer:
SAMSUNG
Quantity:
665
Part Number:
LP2996LQX
Manufacturer:
NS/国半
Quantity:
20 000
Company:
Part Number:
LP2996LQX
Quantity:
3 750
Part Number:
LP2996LQX/NOPB
Manufacturer:
NS
Quantity:
487
www.national.com/jpn/
電気的特性
標準字体で記載された仕様は T
用されます (Note 4)。 特記のない限り 、AV
Note 1:
Note 2:
Note 3:
Note 4:
Note 5:
Note 6:
Note 7:
Note 8:
「絶対最大定格」と は、デバイ スが破壊する可能性のある リ ミ ッ ト値をいいます。 「動作定格」と はデバイ スが正し く機能する条件を示しますが、特定の
= 151.2 ℃ /W でデ ィ レーテ ィ ン グ して く ださい。
て保証されています。これらのリ ミ ッ ト値は、ナシ ョ ナル セ ミ コ ン ダク タ ー社の平均出荷品質レベル (AOQL) の計算に使用されます。
性能限界を保証する ものであ り ません。 保証された仕様、お よ びそのテス ト条件については「電気的特性」を参照して く ださい。 仕様の保証は、表記
のテス ト条件にのみ適用されます。 記載のテス ト条件以外でデバイ ス を動作させる と、性能特性が低下する こ とがあ り ます。
使用したテス ト回路は人体モデルに基づき、100pF のコ ンデンサから直列抵抗 1.5kΩを通して各端子に放電させます。
高温では、熱抵抗に基づいてデバイ ス をデ ィ レーテ ィ ン グする必要があ り ます。SO-8 パ ッ ケージでは、 ヒー ト ・ シ ン ク な しで接合部から周囲への熱抵抗θ
25 ℃時のリ ミ ッ ト値は 100%テス ト されます。 全動作温度範囲における リ ミ ッ ト値は、統計的品質管理 (SQC) 方式によ って決められた補正データ を加味し
V
非動作時電流は AV
最大許容消費電力は、最大接合部温度 T
度が極端に上昇して レギュ レー タはサーマル・シ ャ ッ ト ダウ ン状態に入り ます。
V
IN
TT
は、V
負荷レギュ レーシ ョ ンは 10ms の電流パルス を用いて V
( つづき)
IN
= AV
IN
IN
= PV
に流れ込む電流と して定義されています。
J
IN
= 25 ℃の場合であ り 、太字で記載されたリ ミ ッ ト値は「動作温度範囲」 (T
と して定義されます。
IN
= PV
J (MAX)
、接合部・周囲間熱抵抗 θ
IN
= 2.5V、V
TT
を測定しテス ト されています。
DDQ
4
= 2.5V です (Note 5)。
JA
、周囲温度 T
A
の関数です。 最大許容消費電力を超える と、ダイ温
J
= 0° C ∼+ 125° C) に適
JA

Related parts for LP2996LQ